NIM-RM5267 X射线衍射α-SiO<SUB>2</SUB>晶格常数标准物质国家标准物质资源共享平台

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项目介绍 English

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主办单位：国家市场监督管理总局中国计量科学研究院

销售热线：010-64524710

标签

二氧化硅

SiO2

NIM-RM5267 X射线衍射α-SiO₂晶格常数标准物质

3克/瓶密封包装，阴凉、干燥处存放

数量:

- +

特性及基体
研制信息
交流区
规范标准
能力验证

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英文名称

α-SiO₂ lattice constant standard reference material for X ray diffractometer

标准物质证书
样本供参考

https://www.ncrm.org.cn/Repository/e7093852-7e84-4a9f-91c7-75a71c17e1df.pdf

标准物质证书英文
样本供参考

应用领域

仪器检定/校准用标准物质/仪器检定/校准用标准物质

保存条件

密封包装，阴凉、干燥处存放。

使用注意事项

开封使用样品时，应确保取样工具等洁净，避免样品沾污。

特征形态

固态

基体

主要分析方法

X射线衍射法

定值单位

中国计量科学研究院

规格

3g/瓶

定级证书量值信息

	标准值	扩展不确定度U（k=2）（Å）	单位	CAS	备注
晶格常数a	4.9131	0.0001	标准值（Å）
晶格常数c	5.4048	0.0001	标准值（Å）

链接

研制单位名称	中国计量科学研究院
研制单位地址	北京市北三环东路18号
研制单位邮编	100029
研制负责人	高慧芳
研制起止日期
被批准时间
复制批编号
复制批准时间
复制批文号	国质检量函〔〕号
撤销/注销日期
撤销/注销批文号	国质检量函〔〕号
批文名称	国质检量函〔〕号
批文电子版
生产许可证号	国制标物号
许可证书电子版
定级证书号	[ ]标准物质证字（Certificate No.）号
定级证书电子版

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