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项目介绍 English

国家标准物质资源共享平台

主办单位：国家市场监督管理总局 中国计量科学研究院
销售热线：010-64524710
GBW13981 氧化铪薄膜膜厚标准物质
厚度（nm）:9.37 ,U=0.06  单片定值，以证书值为准，订制有周期，下单请提前联系010-64526120确认。真空包装，阴凉、干燥处存放

￥4000.00

状态 制备中
物流 普通运输
当前批次量值 特性 特性值 扩展不确定度(k=2)  表面层 (2.22) /  HfO2层 9.39 0.06  Al2O3层 (9.51) /  SiO2层 (0.27) /
有效期 2024-04-13
数量:
- +
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英文名称Thin film thickness CRM of HfO2
标准物质证书
样本供参考		 https://www.ncrm.org.cn/Repository/ff3c1203-0ec1-4e67-9490-5a8fefc0529b.pdf
标准物质证书英文
样本供参考		https://www.ncrm.org.cn/Repository/70e47f94-bf7d-456a-b481-00025af3f3b7.pdf
应用领域仪器检定/校准用标准物质/仪器检定/校准用标准物质
保存条件真空包装，阴凉、干燥处存放。
使用注意事项样品开封使用应保证取样工具等洁净避免沾污。建议本标准物质开封后用于一次检定/校准活动，在确保使用后无变形、无污染时可多次使用，但其量值仅可作为期间核查。
特征形态固态
基体
主要分析方法纳米薄膜厚度校准装置（[2014]国量标计证第273号）
定值单位中国计量科学研究院
规格每包装为一片，20mm×20mm
定级证书量值信息
标准值 扩展不确定度(k=2) 单位 CAS 备注
表面层 (1.89) 厚度 (nm)
HfO2层 9.37 0.06 厚度 (nm)
Al2O3层 (9.45) 厚度 (nm)
SiO2层 (0.21) 厚度 (nm)
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邮箱
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地址
北京市朝阳区北三环东路18号西门1A楼2层标物服务大厅
中国计量科学研究院标准物质研究与管理中心（国家标准物质研究中心办公室）备案序号： 京ICP备10016728-3号 京公网备案 11010502037132号
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