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JJF 1613-2017 掠入射X射线反射膜厚测量仪器校准规范
来源：      点击次数：430      更新时间：2023-02-06 点击分享

本规范适用于掠入射X射线反射膜厚测量仪器的校准。

全文链接

http://jjg.spc.org.cn/resmea/standard/JJF%25201613-2017/?

GBW13957 二氧化硅薄膜膜厚标准物质
GBW13958 二氧化硅薄膜膜厚标准物质
GBW13959 二氧化硅薄膜膜厚标准物质
GBW13960 二氧化硅薄膜膜厚标准物质
GBW13961 氮化硅薄膜膜厚标准物质
GBW13962 氮化硅薄膜膜厚标准物质
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GBW13979 氧化铪薄膜膜厚标准物质
GBW13980 氧化铪薄膜膜厚标准物质
GBW13981 氧化铪薄膜膜厚标准物质
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