GBW07724 X射线荧光光谱分析用合成标准物质国家标准物质资源共享平台

英文名称

X- Ray Fluorescence spectrum Artificial Standard Material

标准物质证书
样本供参考

标准物质证书英文
样本供参考

应用领域

保存条件

可存放在没有直射光线，温度在26ºC以下的干燥器中。

使用注意事项

使用前105ºC干燥2小时，置干燥器中冷至室温后使用。可用纯净SiO2按比例研磨混合，系列稀释后使用。Mn组标准样品。最小取样量为20mg。

特征形态

固态

基体

主要分析方法

X射线荧光法# 等离子光谱法# 等离子质谱法#

定值单位

国家地质实验测试中心#

规格

瓶子5mm

定级证书量值信息

	标准值	不确定度	单位	CAS
Rb	1.3	0.5	质量分数(10^-6)	7440-17-7
Ba	8.1	4.6	质量分数(10^-6)	7440-39-3
Cr	17.1	4.2	质量分数(10^-6)	7440-47-3
Yb	(0.74)		质量分数(10^-6)	7440-64-4
Hf	3.3	0.6	质量分数(10^-6)	7440-58-6
Mo	1.3	0.6	质量分数(10^-6)	7439-98-7
As	(1.2)		质量分数(10^-6)	7440-38-2
Sn	(0.68)		质量分数(10^-6)	7440-31-5
Pb	2.6	0.8	质量分数(10^-6)	7439-92-1
Ni	2.5	0.8	质量分数(10^-6)	7440-02-0
Co	0.49	0.26	质量分数(10^-6)	7440-48-4
Cu	4.4	2.3	质量分数(10^-6)	7440-50-8
La	(0.76)		质量分数(10^-6)	7439-91-0
Zr	13.7	6.4	质量分数(10^-6)	7440-67-7
Nd	1.3	0.1	质量分数(10^-6)	7440-00-8
V	2.5	1.4	质量分数(10^-6)	7440-62-2
Sr	(3.4)		质量分数(10^-6)	7440-24-6
Ce	(6.5)		质量分数(10^-6)	7440-45-1
Zn	14.7	2.7	质量分数(10^-6)	7440-66-6
Y	4.0	1.9	质量分数(10^-6)	7440-65-5
Ta	(4.1)		质量分数(10^-6)	7440-25-7
Bi	(0.3)		质量分数(10^-6)	7440-69-9
Ti	(80.1)		质量分数(10^-6)	7440-32-6
Mn	7.79*	0.20*	质量分数(10^-6)	7439-96-5
W	1.52*	0.04*	质量分数(10^-6)	7440-33-7
Ga	1.55*	0.05*	质量分数(10^-6)	7440-55-3
Nb	1.48*	0.07*	质量分数(10^-6)	7440-03-1
Cs	1.61*	0.05*	质量分数(10^-6)	7440-46-2
Ge	1.60*	0.03*	质量分数(10^-6)	7440-56-4

*质量分数为×10^-2

链接

研制单位名称	国家地质实验测试中心#
研制单位地址	北京百万庄26,
研制单位邮编	100037,
研制负责人	顾铁新#
研制起止日期
被批准时间	2008-05
复制批编号
复制批准时间
复制批文号
撤销/注销日期
撤销/注销批文号
档案号	310
批文名称	国质检量函〔2008〕290号
批文电子版
生产许可证号	国制标物10000857号
许可证书电子版
定级证书号	[2008]标准物质证字（Certificate No.）0922号
定级证书电子版

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