随着国内外对塑料产品安全性要求的不断提高，塑料及其制品中元素的限定种类越来越广，限量要求也越来越苛刻，相关检测工作日益增多。电子电气产品使用大量塑料材料，根据测试程序要求，应首先采用X射线荧光光谱法（XRF）对样品进行筛选。该方法虽然可以实现样品的快速无损分析，但受基体影响较大，需要采用基体类型和含量范围匹配的标准物质对仪器进行校准或建立标准曲线，才能够实现检测结果准确、可靠。

该系列X荧光分析用聚乙烯和聚氯乙烯中无机成分标准物质（NIM -RM2157～2159和NIM-RM2160～2162），定值成分包括Al、As、Ba、Ca、Cd、Cr、Cu、Hg、K、Mg、P、Pb、Sb、Zn共14种元素，每套包含3个浓度水平并附带1个基体空白样品，可用于建立XRF方法分析聚乙烯和聚氯乙烯样品中无机成分的校准曲线和样品初筛过程中质量控制。该标准物质均匀性、稳定性良好，自定值日期起有效期为60个月。

NIM-RM2157 X射线荧光分析用聚乙烯中无机成分标准物质

NIM-RM2158 X射线荧光分析用聚乙烯中无机成分标准物质

NIM-RM2159 X射线荧光分析用聚乙烯中无机成分标准物质

NIM-RM2160 X射线荧光分析用聚氯乙烯中无机成分标准物质

NIM-RM2161 X射线荧光分析用聚氯乙烯中无机成分标准物质

NIM-RM2162 X射线荧光分析用聚氯乙烯中无机成分标准物质